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當(dāng)前位置:上海皆準(zhǔn)儀器設(shè)備有限公司>產(chǎn)品中心> CMI900 X射線熒光測(cè)厚儀
Advanced Materials Analysis Instrument
CMI900/950系列X射線熒光測(cè)厚儀能夠測(cè)量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品；并且測(cè)量點(diǎn)*小可達(dá)0.025 x 0.051毫米。
CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對(duì)大面積線路板樣品的測(cè)量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺(tái)供用戶選用，分別為：
CMI950系列采用開閉式樣品室，以方便測(cè)定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。同樣，CMI950可提供四種規(guī)格的樣品臺(tái)供用戶選用，分別為：
CMI900/950主要技術(shù)規(guī)格如下：
| No. | 主要規(guī)格 | 規(guī)格描述 | |
| 1 | X射線激發(fā)系統(tǒng) | 垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng) | |
| 空冷式微聚焦型X射線管，Be窗 | |||
| 標(biāo)準(zhǔn)靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等 | |||
| 功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標(biāo)準(zhǔn) 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選 X射線管功率可編程控制 | |||
| 裝備有安全防射線光閘 | |||
| 2 | 濾光片程控交換系統(tǒng) | 根據(jù)靶材，標(biāo)準(zhǔn)裝備有相應(yīng)的一次X射線濾光片系統(tǒng) | |
| 二次X射線濾光片：3個(gè)位置程控交換，Co、Ni、Fe、V等多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選 | |||
| 位置傳感器保護(hù)裝置，防止樣品碰創(chuàng)探測(cè)器窗口 | |||
| 3 | 準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng) | *多可同時(shí)裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器，程序交換控制 | |
| 多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選： －圓形，如4、6、8、12、20 mil等 －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 | |||
| 4 | 測(cè)量斑點(diǎn)尺寸 | 在12.7mm聚焦距離時(shí)，*小測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器) | |
| 在12.7mm聚焦距離時(shí)，測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準(zhǔn)直器) | |||
| 5 | X射線探測(cè)系統(tǒng) | 封氣正比計(jì)數(shù)器 | |
| 裝備有峰漂移自動(dòng)校正功能的高速信號(hào)處理電路 | |||
| 6 | 樣品室 | CMI900 | CMI950 |
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| －樣品室結(jié)構(gòu) | 開槽式樣品室 | 開閉式樣品室 |
| －樣品臺(tái)尺寸 | 610mmx 610mm | 300mmx 300mm | |
| －XY軸程控移動(dòng)范圍 | 標(biāo)準(zhǔn)：152.4 x 177.8mm 任選：50.8mmx 152.4mm 50.4mm x 177.8mm 101.6 x 177.8mm 177.8 x 177.8mm 610mm x 610mm | 300mmx 300mm | |
| －Z軸程控移動(dòng)高度 | 43.18mm | XYZ程控時(shí)，152.4mm XY軸手動(dòng)時(shí)，269.2mm | |
| －XYZ三軸控制方式 | 多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動(dòng)控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動(dòng)控制 | ||
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| －樣品觀察系統(tǒng) | 高分辨、彩色、實(shí)時(shí)CCD觀察系統(tǒng)，標(biāo)準(zhǔn)放大倍數(shù)為30倍。50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。 | |
| 激光輔助光自動(dòng)對(duì)焦功能 | |||
| 可變焦距控制功能和固定焦距控制功能 | |||
| 7 | 計(jì)算機(jī)系統(tǒng)配置 | IBM計(jì)算機(jī)：2.8G奔騰IV處理器，256M內(nèi)存，1.44M軟驅(qū)，40G硬盤，CD-ROM，鼠標(biāo)，鍵盤，15寸液晶，56K調(diào)制解調(diào)器�；萜栈驉燮丈噬珖娔蛴C(jī)。 | |
| 8 | 分析應(yīng)用軟件 | 操作系統(tǒng)：Windows2000中文平臺(tái) 中文分析軟件包：SmartLink FP軟件包 | |
| －測(cè)厚范圍 | 可測(cè)定厚度范圍：取決于您的具體應(yīng)用。請(qǐng)告訴牛津儀器您的具體應(yīng)用，我們將列表可測(cè)定的厚度范圍 | ||
| －基本分析功能 | 無標(biāo)樣檢量線測(cè)厚，可采用一點(diǎn)或多點(diǎn)標(biāo)準(zhǔn)樣品自動(dòng)進(jìn)行基本參數(shù)方法校正。牛津儀器將根據(jù)您的應(yīng)用提供必要的校正用標(biāo)準(zhǔn)樣品。 | ||
| 樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量) | |||
| 可檢測(cè)元素范圍：Ti22 – U92 | |||
| 可同時(shí)測(cè)定5層/15種元素/共存元素校正 | |||
| 組成分析時(shí)，可同時(shí)測(cè)定15種元素 | |||
| 多達(dá)4個(gè)樣品的光譜同時(shí)顯示和比較 | |||
| 元素光譜定性分析 | |||
| －調(diào)整和校正功能 | 系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整和校正功能：校正X射線管、探測(cè)器和電子線路的變化對(duì)分析結(jié)果的影響，自動(dòng)消除系統(tǒng)漂移 | ||
| 譜峰計(jì)數(shù)時(shí)，峰漂移自動(dòng)校正功能 | |||
| 譜峰死時(shí)間自動(dòng)校正功能 | |||
| 譜峰脈沖堆積自動(dòng)剔除功能 | |||
| 標(biāo)準(zhǔn)樣品和實(shí)測(cè)樣品間，密度校正功能 | |||
| 譜峰重疊剝離和峰形擬合計(jì)算 | |||
| －測(cè)量自動(dòng)化功能 (要求XY程控機(jī)構(gòu)) | 鼠標(biāo)激活測(cè)量模式：“Point ａnd Shoot” | ||
| 多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量模式：隨機(jī)模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復(fù)測(cè)量模式 | |||
| 測(cè)量位置預(yù)覽功能 | |||
| 激光對(duì)焦和自動(dòng)對(duì)焦功能 | |||
| －樣品臺(tái)程控功能 (要求XY程控機(jī)構(gòu)) | 設(shè)定測(cè)量點(diǎn) | ||
| One or Two Datumn (reference) Points on each file | |||
| 測(cè)量位置預(yù)覽(圖表顯示) | |||
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| －統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能 | 平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差、值、*小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、數(shù)據(jù)編號(hào)、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖 | |
| 數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表 | |||
| 直方圖 | |||
| 數(shù)據(jù)庫存儲(chǔ)功能 | |||
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| －系統(tǒng)安全監(jiān)測(cè)功能 | Z軸保護(hù)傳感器 | ||
| 樣品室門開閉傳感器 | |||
| 操作系統(tǒng)多級(jí)密碼操作系統(tǒng)：操作員、分析員、工程師 | |||
| －任選軟件 | 統(tǒng)計(jì)報(bào)告編輯器允許用戶自定義多媒體報(bào)告書 | ||
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液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量 | |||
| 材料鑒別和分類檢測(cè) | |||
| 材料和合金元素分析 | |||
| 貴金屬檢測(cè)，如Au karat評(píng)價(jià) | |||
更新時(shí)間：2024/9/12 10:06:56
標(biāo)簽：X射線測(cè)厚儀 牛津測(cè)厚儀價(jià)格 牛津測(cè)厚儀代理
